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什么是電子產(chǎn)品高溫老化篩選？高溫老化篩選也稱高溫老化房或步入式老化試驗室，就是苛刻地考驗它或“努力去燒掉它”的意思，也是一種的破壞性測試，只有那些被極力折磨過而幸存下來的產(chǎn)品才是過硬產(chǎn)品，信譽企業(yè)只會將這些賣給用戶。高溫老化是很有效的一種篩選方法，是電子產(chǎn)品必須進行的篩選手段之一。
 高溫老化通常是將電子產(chǎn)品置于高溫條件下，其中做高溫老化篩選的設(shè)備有高溫老化房、老化箱等，施加相應的電壓、負載，以獲得足夠大的篩選應力，達到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。所施加的電應力，包括輸入的交流高壓、功率老化、電壓沖擊。使電子產(chǎn)品內(nèi)部的元器件在老化過程中能經(jīng)受工作狀態(tài)下的zui大功耗和應力。超功率老化顯然縮短老化時間，但也有可能使器件瞬時負載超過zui大額定值，使合格器件遭受損傷，甚至發(fā)生即時劣化或擊穿。有的電子產(chǎn)品產(chǎn)品可能暫時還能工作，但壽命卻縮短了。所以，對于超功率老化來說，并不是超得越多越有效果，而是應該選擇一個適當?shù)某摵闪俊，F(xiàn)在比較一致的方法是對電源施加zui大額定功率，適當延長老化時間，是比較合理的電功率老化篩選方法。
可靠性篩選試驗設(shè)計的目的是要確定試驗條件，包括試驗的項目、試驗應力和試驗時間。由于不同類型的電源產(chǎn)品，不同的生產(chǎn)廠家或使用不同的材料、結(jié)構(gòu)、工藝流程所生產(chǎn)的電子產(chǎn)品其失效機理是不同的，并且早期失效期與偶然失效期的分界點也不可能一樣，很難制訂一個適應各種電子產(chǎn)品的統(tǒng)一的可靠性篩選試驗條件。因此，必須針對產(chǎn)品的特點進行大量的可靠性試驗或可靠性篩選摸底試驗，掌握產(chǎn)品的失效分布以及失效機理與篩選試驗項目、應力和時間的關(guān)系，而后才能正確地擬定出該產(chǎn)品的可靠性篩選試驗條件。

顯然，如果可靠性老化篩選試驗條件不妥當，則可能會使一些電源產(chǎn)品因篩選試驗強度不夠而造成可靠性和穩(wěn)定性不能滿足要求，或者因為漏掉必要的篩選試驗項目而使這部分早期失效品未能篩選出來。另外，也可能因篩選試驗條件過嚴而把本來是好的電子產(chǎn)品剔除掉一部分。